YKG-5011高壓開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀依據(jù)高壓開關(guān)動(dòng)測(cè)試儀的新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)研制的儀器。它以單片機(jī)為核心,*性的采用CPLD存貯轉(zhuǎn)鼓式采樣技術(shù),其主要特點(diǎn)是采用旋轉(zhuǎn)式傳感器,傳感器安裝方便,測(cè)試精度高,一機(jī)多用。采用漢字顯示結(jié)果并可打印輸出測(cè)試曲線、測(cè)試參數(shù),具有智能化、功能多、數(shù)據(jù)精確、抗干擾性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、外觀美等優(yōu)點(diǎn)
YKG-5013高壓開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀依據(jù)高壓開關(guān)動(dòng)測(cè)試儀的新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)研制的儀器。它以單片機(jī)為核心,*性的采用CPLD存貯轉(zhuǎn)鼓式采樣技術(shù),其主要特點(diǎn)是采用旋轉(zhuǎn)式傳感器,傳感器安裝方便,測(cè)試精度高,一機(jī)多用。采用漢字顯示結(jié)果并可打印輸出測(cè)試曲線、測(cè)試參數(shù),具有智能化、功能多、數(shù)據(jù)精確、抗干擾性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、外觀美等優(yōu)點(diǎn)
YKG-5014高壓開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀依據(jù)高壓開關(guān)動(dòng)測(cè)試儀的新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)研制的儀器。它以單片機(jī)為核心,*性的采用CPLD存貯轉(zhuǎn)鼓式采樣技術(shù),其主要特點(diǎn)是采用旋轉(zhuǎn)式傳感器,傳感器安裝方便,測(cè)試精度高,一機(jī)多用。采用漢字顯示結(jié)果并可打印輸出測(cè)試曲線、測(cè)試參數(shù),具有智能化、功能多、數(shù)據(jù)精確、抗干擾性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、外觀美等優(yōu)點(diǎn)
YKG-5015高壓開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀依據(jù)高壓開關(guān)動(dòng)測(cè)試儀的新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)研制的儀器。它以單片機(jī)為核心,*性的采用CPLD存貯轉(zhuǎn)鼓式采樣技術(shù),其主要特點(diǎn)是采用旋轉(zhuǎn)式傳感器,傳感器安裝方便,測(cè)試精度高,一機(jī)多用。采用漢字顯示結(jié)果并可打印輸出測(cè)試曲線、測(cè)試參數(shù),具有智能化、功能多、數(shù)據(jù)精確、抗干擾性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、外觀美等優(yōu)點(diǎn)
YKG-5016高壓開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀依據(jù)高壓開關(guān)動(dòng)測(cè)試儀的新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)研制的儀器。它以單片機(jī)為核心,*性的采用CPLD存貯轉(zhuǎn)鼓式采樣技術(shù),其主要特點(diǎn)是采用旋轉(zhuǎn)式傳感器,傳感器安裝方便,測(cè)試精度高,一機(jī)多用。采用漢字顯示結(jié)果并可打印輸出測(cè)試曲線、測(cè)試參數(shù),具有智能化、功能多、數(shù)據(jù)精確、抗干擾性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、外觀美等優(yōu)點(diǎn),
JTKT-1開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀操作方便,具有自動(dòng)測(cè)試功能,完成普通的單合、單分測(cè)試僅需按一下測(cè)試按鈕,即可以完成測(cè)試和結(jié)果顯示過(guò)程。
KDHL系列回路電阻測(cè)試儀能連續(xù)輸出大電流,可以有效克服“脈沖式“電源不能連續(xù)工作臺(tái)和不能有效擊穿被試品“氧化膜“的弊端,測(cè)量分辨率可達(dá)到0.1μΩ。各測(cè)量功能與進(jìn)口產(chǎn)品相當(dāng)。廣泛應(yīng)用于高壓開關(guān)接觸電阻(回路電阻)的高精度測(cè)量,同樣適用于其它需要大電流、微電阻測(cè)量方法的場(chǎng)合
ZSL100回路電阻測(cè)試儀廣泛適用于各種開關(guān)及電器的接觸電阻,以及電纜電線、焊縫接觸電阻的測(cè)量,滿足電力部門對(duì)于接觸電阻測(cè)試的要求。
ZSL200型回路電阻測(cè)試儀廣泛適用于各種開關(guān)及電器的接觸電阻,以及電纜電線、焊縫接觸電阻的測(cè)量,滿足電力部門對(duì)于接觸電阻測(cè)試的要求。
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